亞洲重要的分析、實驗室技術(shù)和生化領(lǐng)域?qū)I(yè)博覽會——第十屆慕尼黑上海分析生化展 (analytica China 2020)即將于 2020 年 11 月 16-18 日在上海新博覽中心 E2-E7 館拉 開帷幕。本屆展會規(guī)模*,展示總面積超 60,000 平方米。在此,主辦方誠摯地邀請您及同事組團(tuán)前來參觀!
本屆 analytica China 除了大家熟悉的生命科學(xué)、診斷與生物技術(shù)展區(qū)、分析與質(zhì)量控制展區(qū)、實驗室通用設(shè)備展區(qū)、實驗室建設(shè)與安全展區(qū)、食品安全裝備與技術(shù)展區(qū)、環(huán)境保護(hù)裝備與技術(shù)六大基礎(chǔ)展區(qū)以外,為了滿足實驗室自動化信息化與實驗室設(shè)備核心零部件的市場需求及快速發(fā)展,將*推出實驗室自動化與信息化展區(qū)和實驗室設(shè)備核心零部件展區(qū),帶來實驗室創(chuàng)新產(chǎn)品及研發(fā)技術(shù)解決方案,推動未來實驗室智能化發(fā)展?,F(xiàn)場預(yù)計匯聚 1,200+家業(yè)內(nèi)企業(yè),帶來全新研發(fā)成果。為政府部門及科研機(jī)構(gòu)、食品、生物制藥、環(huán)境監(jiān)測、醫(yī)療衛(wèi)生、化工、第三方檢測等各個行業(yè)用戶提供新實驗室產(chǎn)品與技術(shù),以及完整的實驗室解決方案和一體化服務(wù)。期待您的到來,與 36,000 多名專業(yè)觀眾共襄盛舉。
同期舉辦的 analytica China 研討會也是業(yè)內(nèi)人士關(guān)注的焦點,多場高規(guī)格、高質(zhì)量主題會議活動,將就分析化學(xué)、食品安全、環(huán)境監(jiān)測與檢測、制藥、臨床診斷、醫(yī)學(xué)、實驗室規(guī)劃與管理等專題進(jìn)行深入探討。
后,再次誠摯地邀請您及同事組團(tuán)參觀此次慕尼黑上海分析生化展,進(jìn)行跨界合作交流, 共同探索新分析、實驗室技術(shù)、診斷和生化技術(shù),推動中國相關(guān)產(chǎn)業(yè)的進(jìn)一步發(fā)展!
廣州貝拓科學(xué)-誠邀您蒞臨參觀
廣州貝拓科學(xué)將攜多款拳頭產(chǎn)品亮相上海新博覽中心。貝拓科學(xué)(E5館5827)誠邀新老朋友蒞臨參觀指導(dǎo)!展會期間能譜科技的產(chǎn)品工程師將為您分享科學(xué)儀器技術(shù),期待您的參與。
展品一:全自動接觸角測量儀DSA-X PLUS
DSA-X PLUS光學(xué)接觸角測量儀由貝拓科學(xué)自主研發(fā)設(shè)計生產(chǎn),配置先進(jìn)的高分辨高速工業(yè)相機(jī)搭配LED冷光源,獲得高清圖像并通過全新優(yōu)化的軟件進(jìn)行計算擬合獲得準(zhǔn)確的測試數(shù)據(jù)。儀器機(jī)構(gòu)結(jié)合了人體工程學(xué),提供人性化的自動化進(jìn)樣調(diào)節(jié)、樣品臺調(diào)節(jié)、光學(xué)系統(tǒng)調(diào)節(jié)等,使測試變得準(zhǔn)確而快速高效。
展品二:力學(xué)法表面張力儀KF100
表面張力儀-KF100功能多樣,可以全自動測量表面和界面張力。KF100提供了諸多擴(kuò)展模塊來拓展儀器的應(yīng)用范圍, 用于測定表面和界面的各種特性,大大提高了其使用的靈活性。用標(biāo)準(zhǔn)方法來測量液體的表面和界面張力。測量溫度控制范圍從-10到130 °C,可以滿足實際測量需要。測樣空間寬敞,有利于樣品方便的處理。KF100測試結(jié)果準(zhǔn)確、快速、穩(wěn)定,深受用戶好評!
展品三:納米粒度儀DLS 90
DLS90是一款基于動態(tài)光散射原理研制的納米顆粒粒度表征儀器。分散在液體中的顆粒由于受到液體分子的熱運動撞擊而進(jìn)行不規(guī)則的布朗運動。在相同環(huán)境下,顆粒尺寸越小,布朗運動越劇烈,對應(yīng)顆粒的擴(kuò)散行為越明顯。當(dāng)一束激光照射到這些顆粒時,其散射光的強度會由于顆粒的布朗運動而隨機(jī)變化,且變化的快慢與顆粒布朗運動的快慢有關(guān)。通過特定的光子相關(guān)器可直接測量散射光強的變化快慢,進(jìn)而可知顆粒布朗運動的擴(kuò)散系數(shù),再利用Stokes-Einstein公式即可計算得到顆粒的粒徑及其粒度分布。動態(tài)光散射技術(shù)是標(biāo)準(zhǔn)化組織(ISO)推薦采用的納米顆粒粒度測量技術(shù),相比其他技術(shù),其從測量原理上具有顯著的優(yōu)勢,是目前通用的納米顆粒粒度測量方法。
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